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發(fā)布時間：2016/11/16
點(diǎn)擊次數(shù)：302
顯微熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀 型號：DP-SGW X-4
特點(diǎn)：
測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻法（熱臺片法）測定。
主要參數(shù)：
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時）
±2℃（在20 .0℃ 320℃ 時）
| X-4 | X-4A | X-4B |
溫度顯示zui小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點(diǎn)觀察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學(xué)放大倍數(shù) | 40× | 40× | 40×-100×連續(xù)變倍
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當(dāng)前位置：
